LGA(QFN)のランド構造について

ポイント:
基板に搭載するデバイスのサイズが小さくなるにしたがい、パターン銅箔厚さ、レジスト厚さ、シルク厚さなどを、十分意識することが必要になってきます。



下図パターンの問題点
1.SMDとNSMDが混在しているため、デバイスに対面する基板表面が一定でない。

2.SMDとNSMDとで、熔けたときの、ハンダ厚さが違ってしまう。
 パット :0.3×0.6
 レジスト開口 :0.4×0.7 
 メタルマスク開口:0.28×0.58(×板厚0.12) ・・・として、計算すると

NSMDパット部のハンダ厚さ =(0.28×0.58×0.12)÷(0.3×0.6)×60%=0.065
SMDパット部のハンダ厚さ =(0.28×0.58×0.12)÷(0.4×0.7)×60%=0.042
レジストの厚さが20μm程度とすると、65μmと42μmの差は無視できません。


改善案
デバイスに対面する基板面は全てNSMDとする。
パット以外のパターンはデバイスの下には通さない